Techniken und Ausstattung
| Gerät | Kenndaten |
| Härteprüfmaschine | Zwick ZHU2.5; für instrumentierte Eindringversuche mit digitaler Meß-, Steuer- und Regelelektronik, Härtemeßkopf bis 200N |
| Dualbeam SEM/FIB | FEI Nanolab200; für die mikrostrukturelle Charakterisierung und Herstellung kleiner Versuchsproben mittels Ga-Ionenstrahl, Ausstattung: u.a EDXS und EBSD, |
| Nano Indenter | MTS XP; zur Duchführung von nano- und mikromechanischen Tests. Ausstattung: u.a, CSM, DCM, bis 10N |
| AFM | PISA XE-100E; zur Untersuchung von Oberflächen. Ausstattung: getrennte x-u.z- Scans, Auflösung: 0,05 nm in z und 0,1 nm in x-y Richtung, closed loop feedback |