Ausstattung
Die Ausstattung der Abteilung „Instrumentelle Strukturanalytik“ umfasst verschiedene Methoden der Licht- und Elektronenmikroskopie.
Transmissionselektronenmikroskop
![Foto: Hereon/allgemein Transmissionselektronenmikroskop Tecnai G2 F20 von Fei](/imperia/md/images/hzg/institut_fuer_polymerforschung/geesthacht/pmn/fittosize__730_0_c3462a571d62a73c5bb61fafdf17dc5c_tem_tecnai_g2_f20__fei___2014_.jpg)
Foto: Hereon/allgemein
Tecnai G2 F20 (Fei)
• 200kV, Feldemissionskathode
• EFTEM, EELS (GIF2002, Fa. Gatan)
• STEM
• EDX-Analyse (Fa. EDAX)
• HAADF (Fa. Fischione)
• Kryo-Probenhalter
• Tomographie
Rasterelektronenmikroskop
![Foto: Hereon/allgemein Rasterelektronenmikroskop Merlin von Zeiss](/imperia/md/images/hzg/institut_fuer_polymerforschung/geesthacht/pmn/fittosize__730_0_1321b431e80c291d16a9e5dea782e1a3_img_6887_corr.jpg)
Foto: Hereon/allgemein
Merlin (Zeiss)
• 30kV, Feldemissionskathode
• Detektoren: SE, BSE, EsB, STEM
• EDX
Rasterelektronenmikroskop
![Foto: Hereon/allgemein Rasterelektronenmikroskop Leo Gemini von Zeiss](/imperia/md/images/hzg/institut_fuer_polymerforschung/geesthacht/pmn/fittosize__730_0_af3eb9e54ffe46470425b0eaca388145_leo.jpg)
Foto: Hereon/allgemein
LEO Gemini 1550 VP (Zeiss)
• 30kV, FEG
• Detektoren: SE, BSE
• EDX-Analyse (Fa. EDAX)
Rasterkraftmikroskop
![Foto: Hereon/allgemein Rasterkraftmikroskop MultiMode 8 von Bruker](/imperia/md/images/hzg/institut_fuer_polymerforschung/geesthacht/pmn/fittosize__730_0_c6df6fe244dc0df8180487cd5a6f5d71_img_6942_rasterkraftmikroskop.jpg)
Foto: Hereon/allgemein
MultiMode 8 (Bruker)
• Nanoscope Controller V
• Messmodi
- Tapping Mode®
- Contact Mode
- PeakForce Modes
- ScanAsystTM
- Conductive AFM
- Kelvin Probe AFM
- Tunneling AFM
• Zubehör
- Temperature Control: -35°C to 250°C
- Fluid cell, Gas cell
- ScanAsystTM HR
Leica-Lichtmikroskop
![, Foto: Hereon/allgemein Lichtmikroskop von Leica](/imperia/md/images/hzg/institut_fuer_polymerforschung/geesthacht/pmn/fittosize__730_0_3ad345589b443235c1c5f0fd630bef8a_lichtmikroskop_leica.jpg)
, Foto: Hereon/allgemein
Leica DMLM
• Auflicht/Durchlicht
• Objektive: 10x, 20x, 50x, 100x
• Phasenkontrast
• Heiz-/Kühltisch
• Temperaturcontroller TMS94 (Fa. Linkam)
-196°C bis 600°C
Raman-Mikroskop (dispersiv)
![Foto: Hereon/allgemein Raman-Mikroskop Senterrra von Bruker](/imperia/md/images/hzg/institut_fuer_polymerforschung/geesthacht/pmn/fittosize__730_0_9e5cd85cb1b6e0a3d15da5c58adcfe81_raman.jpg)
Foto: Hereon/allgemein
Senterra (Bruker)
• Anregungswellenlänge: 785nm und 532nm
• Objektive: 10x, 20x, 50x, 100x