Rasterelektronenmikroskopuntersuchungen

Materialcharakterisierungen mit dem Rasterelektronenmikroskop

Materialcharakterisierungen mit dem Rasterelektronenmikroskop, Materialanalytik mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX), Materialanalytik mit Elektronenrückstreubeugung (EBSD)

Materialcharakterisierungen mit dem Rasterelektronenmikroskop gehören zur Standardanalytik in der Materialentwicklung. Strukturelle Eigenschaften der Materialgefüge können mit verschiedenen Untersuchungsmethoden und Kontrasten sichtbar gemacht werden. Die Abteilung Metallphysik verfügt über ein modernes Rasterelektronenmikroskop der Firma TESCAN (Baujahr 2024) mit angeschlossener Analytik für EDX und EBSD der Firma Oxford.